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蔡司ROTOS粗糙度传感器提高了测量效率

      新型的蔡司ROTOS粗糙度传感器允许使用三坐标测量机,即使在复杂的工件上,也可以完全检查表面的波纹度和粗糙度,并且全部在一个测量程序中完成,而无需重新夹紧任何零件。这项创新技术可在单个测量设置中简化并加快零件图纸中所有表面参数的测量。

  蔡司ROTOS传感器可以在一台机器上检查尺寸,形状和位置公差以及粗糙度参数。现在可以在ZEISS PRISMO和ZEISS CenterMax三坐标测量机(CMM)上执行这些操作,而不再需要单独的测针仪来捕捉更大的形状偏差。使用CMM探针上的接口可以轻松地根据需要更换传感器。根据测量机器和特定的测针,用户可以使用新传感器捕获高达0.03 µm的Ra粗糙度值。

  创新的蔡司ROTOS设计可检查几乎所有工件特征。三个可旋转的多个测针臂,使得可以测量深孔和难以到达的表面;蔡司ROTOS的开销测量也不是问题。新功能包括用于测量密封面上的粗糙度和波纹度的防滑撬针。由于ZEISS ROTOS已完全集成到Zeiss CALYPSO测量软件中,并且可以在定制的专业显示器中对表面粗糙度进行分析和可视化,并在ZEISS PiWeb报告软件中显示尺寸,形状和位置,因此对表面参数进行编程非常容易。

  蔡司三坐标测量机的用户无需再投资用于在线粗糙度测量的单独系统,就可以从中受益,因为可以在一个设置中检查零件,从而消除了粗糙度测量系统和三坐标测量机之间的零件运输,从而使测量过程更快,更多。可靠,更灵活,更高效。


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