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蔡司在IMTS 2018上展示了新的质量控制检验解决方案

发布日期:2019-10-31 10:36:03

 

在2018年IMTS(国际制造技术展览会)上举办的蔡司工业计量学主题,将提供广泛的定制质量体系和支持。无论是在实验室,测量室还是生产中,要确保高效可靠的质量保证过程,不仅需要检查系统。客户需要现在和将来拥有经验丰富的合作伙伴,都可以放心。从CT解决方案到三坐标测量机,再到软件,

  X射线解决方案

  蔡司收购了意大利X射线提供商Bosello HT的多数股权,以便为客户提供更广泛的CT解决方案。BOSELLO SRE MAX 2D工业放射成像系统将在展会上展出,展示用于汽车和航空航天业的在线和在线检查解决方案。该技术提高了铝铸件检验的质量水平。蔡司METROTOM将展示3D X射线CT测量,以提供完整的内部和外部零件见解。我们还将重点介绍蔡司Xradia Versa的高分辨率3D X射线显微镜。

  超精密

  三坐标测量机的入门级产品将在展会上重点介绍广泛的系统,包括蔡司三坐标测量机产品系列中的*新产品。蔡司的MICURA 三坐标测量机具有主动扫描和亚微米精度,是测量微小的复杂零件的理想选择,现在它包括一个具有更大测量范围的模型。新系统可以处理更大的零件,其500 x 700 x 500毫米的测量范围扩大了40%,并且具有机器安装的控制器,从而节省了占地面积。蔡司MICURA随附VAST XT gold或VAST XTR gold有源扫描传感器。倾斜功能*适合VAST XTR黄金传感器。其集成的旋转接头使触控笔系统能够以15度的增量尽可能旋转,因此始终将触控笔定位在要测量特征的方向上。

100%

  2D和3D测量

  从2D轮廓投影仪到3D扫描仪再到多传感器三坐标测量机S,可在蔡司主展位找到全套光学解决方案。现在,使用蔡司O-INSPECT多传感器坐标测量机可以比以往更快地检查敏感,反射或低对比度的表面。我们将在蔡司O-INSPECT 三坐标测量机上演示新型的蔡司DotScan彩色共聚焦白光传感器。

  蔡司DotScan传感器可以根据需要进行更换,可以节省大量时间并提高灵活性。该传感器有三种尺寸,可用于不同的测量范围:1、3和10毫米。在2018年11月,所有新的蔡司O-INSPECT多传感器测量机系统都将标配使用新传感器的接口。

  排队。在线。离线。

  蔡司主展位的核心是两个机器人系统,与会者可以近距离演示*新的自动检查解决方案。蔡司是车身制造系统质量保证的一站式合作伙伴,从测量和检测技术到固定装置,再到质量数据管理和服务。通过集成的蔡司技术获得*高的质量和生产率。

  粗糙度,轮廓和形状检查

  形状和表面测量系统无缝集成到蔡司的工业测量技术范围内。各种各样的独立机器和专用于三坐标测量机的传感器蔡司ROTOS。新型传感器使三坐标测量机可以完全检查表面波纹度和粗糙度-即使是在复杂的工件上,也可以一次测量运行而无需重新夹紧。这项创新技术可在单个测量周期内简化并加快图纸中所有表面参数的测量。由于蔡司ROTOS完全集成在蔡司测量软件CALYPSO中,因此对表面参数进行编程非常容易。可以在定制的专业显示器中分析和可视化表面粗糙度,并在ZEISS PiWeb报告中显示尺寸,形式和位置。全新的便携式产品系列

  检验,分析和报告

  ZEISS CALYPSO是易于使用的计量软件,可与ZEISS坐标测量机,光学系统,计算机断层摄影机等产品组合一起使用。无论应用程序如何,都可以使用相同的工具和检查功能。CALYPSO 2018将会展出,新版本将为客户提供100多种新功能,以进一步增强他们的质量检查流程。内置于CALYPSO 2018的PiWeb报告已得到增强,其中包括新功能,针对不断增长的光学产品线的更多用户友好功能,曲线测量和零件系列测试的效率提高以及新的特性计算。


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